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High Quality, Quick Analysis
XPS 분석 전문회사
Request AFM 분석의뢰
AFM 분석은 원자 간 힘을 이용해 표면의 형태(Topography) 측정하는 기술입니다.
나노미터 수준의 높은 해상도로 표면의 3차원 이미지와 거칠기(Roughness) 확인할 수 있습니다.
Tapping, Non-Contact 모드로 측정 가능하여 시료 손상을 최소화 하여 분석 가능합니다.
전도성 없는 시료도 분석 가능하며 주로 박막, 나노소재, 반도체, 단백질, DNA, 세포 표면, 촉매 등의 표면 구조 및 표면 거칠기 분석에 활용되고 있습니다.
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